Zerstörungsfreie Prüfungen
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Lichtmikroskop
LEICA
max. Vergrößerung: 1000-fach,
Auflicht, Durchlicht, Hellfeld, Dunkelfeld,
Polarisation, Phasenkontrast,
Heiztisch (RT bis 125°C)
Photo- und Videoeinrichtung; Begutachtung
von An- und Dünnschliffen, Dünnschnitten, thermooptische Untersuchungen
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Universal-Auflichtmikroskop
ZEISS Axioplan
mit
Bildverarbeitung Kontron KS 400
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Auflichtmikroskop
ZEISS Axioskop
mit
Mikrohärteeinrichtung
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Polarisationsmikroskop
ZEISS Axiolab
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Messmikroskop
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Stereomikroskop
mit
Digitalkamera
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Rasterelektronenmikroskop
Philips XL30
in Kopplung mit EDX (energiedispersive Röntgenanalyse)
Sputteranlage (Au, C)
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Rasterelektronenmikroskop
JEOL JSM-35 C
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Rasterelektronen-Mikroskop
JSM 6300
in Kopplung mit EDX (energiedispersive Röntgenanalyse)
Auflösung: 5 nm
Sekundärelektronen- und Rückstreudetektor, Photoeinrichtung, Videoprinter
Phasenmorphologie-
und Strukturcharakterisierung, Elementaranalyse
- Transmissionselektronenmikroskop JEM 2010
Punktauflösung:
0,23 nm
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Quantimet
570
quantitative
Bildanalyse, quantitative Struktur- und Gefügeuntersuchungen von allen Vorlagen
(Papierbild, Diapositiv, Negativ, Videobild vom Band, digitale Vorlagen)
Analyse nach: Größenparametern, Anteilen, Verteilungen
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2-Kanal-Schallemissionsmeßsystem
BRÜEL&KJAER 4429
Vorverstärker:
40 dB
Breitbandverstärker: 36 dB und Frequenzfilterung
Detektion
und Ortung charakteristischer Schädigungsprozesse, Messung von Impuls-,
Energie- und Ereignissumme
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Schallemissionsprüfsystem
VALLEN-Systeme AMSY 4
volldigitales
1-Kanal-AE-System
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Laserextensometriesysteme
Längs-Quer-Laserscanner
zur Darstellung lokaler Deformationen,
Laser-Multiscanner
zur Ermittlung lokaler Deformationsfelder,
Laser-Doppelscanner für die experimentelle Bruchmechanik
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Optisches
Verformungsmesssystem GOM Aramis HR
berührungslose Messung von Verformungsfeldern (2D und 3D)
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Schwingungs-Modalanalyse-System
BRÜEL&KJAER 2035
2-Kanal-System
Eingangsmodul 100 kHz
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Bildgebendes
Ultraschall-Prüfsystem HFUS 2000
mit Tauchbadtechnik, Frequenzbereich: 1 bis 100 MHz,
Impuls-Echo-Methode, Durchschallung,
A-, B-, Bt-, C- und
D-Bilddarstellung
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Ultraschall-Defektoskop
HITACHI
Impuls-Echo-Methode
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Ultraschall-Dickenprüfgerät
KRAUTKRÄMER
Impuls-Echo-Methode,
Wanddickenmessung,
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Röntgen-Grobstruktur-System
ERASCO
Erkennen
von Fehlern und Einschlüssen (Größe, Form, Ortung)
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FTIR-Spektrometer
S2000, Fa. Perkin &
Elmer
IR-Mikroskop Spektralbereich: 450 bis 6500 cm-1
Messmodi IR-Mikroskop: Transmission, Reflexion
chemische Charakterisierung, Materialidentifizierung, Orientierungsmessung, Nachweis von Modifizierungseffekten
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DMA
2980, Fa. TA Instruments
Temperaturbereich:
-145°C bis 600°C
thermische
Stabilität: ±
0,1°C über 50°C, ±
1°C unter 50°C
Belastung:
0,001 N bis 18 N
dynamische
Deformation: ±
0,5 bis 10.000 µm
Auflösung:
1 nm
Zug (Folien), Druck, 3-Punkt-Biege, Single-Cantilever